发明名称 Phase-shifting profilometry system using scanning and measuring method thereof
摘要
申请公布号 KR100489431(B1) 申请公布日期 2005.05.12
申请号 KR20020036848 申请日期 2002.06.28
申请人 发明人
分类号 G01N21/45;(IPC1-7):G01N21/45 主分类号 G01N21/45
代理机构 代理人
主权项
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