| 摘要 |
一种应用于光学轨迹导航元件之次画素位移量侦测方法，系以泰勒展示的一阶偏微分函数所建立之连立方程式来计算位移量。该侦测方法包含下列步骤：撷取第一张影像与第二张影像；选取复数个影像点作为计算参考点；根据前述第一张影像与第二张影像计算出前述计算参考点之泰勒展示的一阶偏微分函数之偏微分量，以产生复数个二元一次方程式；以及根据前述复数个二元一次方程式计算次画素位移量。而计算参考点可为符合影像亮度的变化是单调性且亮度的变化大于一临界值之考靠点。同时，可将计算参考点分类，并将其各类系数加总来计算位移量，藉以抑制杂讯。 |
