发明名称 | 以块单位进行擦除的半导体存储装置 | ||
摘要 | 半导体存储装置,包括成为擦除时的单位的多个块核心、用于在缺陷产生时置换为这些块核心中的存储器单元阵列的R/D块核心、存储缺陷块核心地址的R/D地址存储部及把该R/D地址存储部的输出信号和块地址缓冲器的输出信号进行比较的R/D地址比较部。在比较结果一致时,使R/D块核心中的块解码器成为选择状态,使缺陷块核心中的块解码器成为强制非选择状态,把缺陷块核心置换为R/D块核心。 | ||
申请公布号 | CN1199188C | 申请公布日期 | 2005.04.27 |
申请号 | CN00104392.7 | 申请日期 | 2000.03.23 |
申请人 | 株式会社东芝 | 发明人 | 田浦忠行;渥美滋 |
分类号 | G11C11/34;H01L27/10 | 主分类号 | G11C11/34 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 王永刚 |
主权项 | 1.半导体存储装置,包括:存储器单元配置成行列状的多个第一存储器块;选择上述第一存储器块的第一解码器;具有与第一存储器块相等结构的至少一个第二存储器块;选择上述第二存储器块的第二解码器;输出块地址信息的块地址缓冲器;存储缺陷块地址的缺陷块地址存储部;以及把在上述缺陷块地址存储部中所存储的缺陷块地址与从上述块地址缓冲器所输入的块地址进行比较的缺陷块地址比较部;其中,当由上述缺陷块地址比较部检测出一致时,使选择缺陷发生的第一存储器块的上述第一解码器成为非选择状态,同时,使上述第二解码器成为选择状态,在电源接通时进行上述缺陷块地址存储部的读出动作,并在上述缺陷块地址存储部的内部进行闩锁。 | ||
地址 | 日本神奈川县 |