用以校准磁性记忆体之读取电路的系统及方法

摘要

在此揭示一种用于校准磁性记忆体(10)之读取电路(46)之方法。此方法包含测量一校准值。此方法包含若此校准值系位于一最大范围内时实施一大错误校准。此方法包含若该校准值系位于一最小范围内时实施一小错误校准。此方法包含于该磁性记忆体上实施一第一读取操作。此方法包含于该磁性记忆体上实施一第二读取操作。