首页
产品
黄页
商标
征信
会员服务
注册
登录
全部
|
企业名
|
法人/股东/高管
|
品牌/产品
|
地址
|
经营范围
发明名称
A METHOD FOR MEASURING THERMAL RESISTANCE OF LASER DIODE
摘要
申请公布号
KR20050034140(A)
申请公布日期
2005.04.14
申请号
KR20030069971
申请日期
2003.10.08
申请人
SAMSUNG ELECTRO-MECHANICS CO., LTD.
发明人
INOUE, YASUAKI;JUNG, MYOUNG SIK;KIM, HYUN JEI
分类号
H01S5/02;(IPC1-7):H01S5/02
主分类号
H01S5/02
代理机构
代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
METHOD OF PRODUCING CADMIUM CATHODS PLATE FOR ALKALINE STORAGE BATTERY
PRODUCTION OF PIEZOOELECTRIC PORCELAIN PARTS
MULTIPLE WINDOW GLASS AND ITS PREPARATION
ELECTRODE DEVICE
CRT DISPLAY UNIT
BIT SYNCHRONIZATION SYSTEM FOR BIT ERROR COUNTING DEVICE
DIGITAL COMPUTER HAVING MULTIPLE PROCESSOR FUNCTION USING COMPOSITE INTELLIGENT MEMORY AND INPUT*OUTPUT MODULES
CHECK VALVE AND GAME BALL CONTAINING IT
CIRCUIT FOR DETECTING OPERATION OF STEP MOTOR
MULTIITOOL CUTTER
MARK POSITION DETECTOR IN ELECTRON BEAM EXPOSURE
CONFERENCE TELEPHONE SYSTEM
CIRCUIT FAULT PROCESS SYSTEM OF ONNLINE DATA TRANSMISSION SYSTEM
