发明名称 精密测试治具结构改良
摘要 本创作有关一种精密测试治具结构改良,尤指藉载板板体适当处设有一短探针,并藉背板使短探针被封于载板之针透孔与埋针孔穴内作动,另对应于背板顶针贯孔之针板顶针孔处设有顶针,该顶针得顶触载板埋针孔穴内短探针针身端面,让短探针针头可与电路板电子元件之测试点接触,形成一针体不易变形、精确度高之测试结构,此外,在短探针遇磨损时,只须卸下背板,更换短探针,而非长探针,就能行更新换修作业,操作便利方便,降低成本,符合经济效益。
申请公布号 TWM261697 申请公布日期 2005.04.11
申请号 TW093208079 申请日期 2004.05.24
申请人 良瑞科技股份有限公司 发明人 徐贵良
分类号 G01R31/02 主分类号 G01R31/02
代理机构 代理人
主权项 1.一种精密测试治具结构改良,其相关组成包括:载板、针板等构件,其特征在于:在载板板体适当处设有针透孔及与针透孔同心相连且内径略大之埋针孔穴,得供置入一短探针,又短探针针体分别具有与针透孔、埋针孔穴之内径相合之外径,形成一细微之针头及稍粗的针身,又针头可与电路板电子元件之测试点接触,而在针头与针身之相接处则为一圈环肩,得与埋针孔穴穴端面之间保持一空隙,便于短探针之作动;又位在埋针孔穴之载板面处相接有一背板,板体上开有一顶针贯孔,其孔径略小于短探针针身外径,得使短探针被封于载板之针透孔与埋针孔穴内作动;另对应于背板顶针贯孔之针板顶针孔处设有顶针,该顶针得经背板顶针贯孔,至载板埋针孔穴处,顶触穴内短探针针身端面,让短探针、顶针形成一可导通电流的测试结构。2.如申请专利范围第1项所述之精密测试治具结构改良,其中,背板藉螺钉得与载板相连结。图式简单说明:第一图 系本创作精密测试治具结构改良之横断面结构图。第二图 系本创作之实施例图。第三图 系本创作载板、背板、短探针之局部放大图。第四图 系习知载板、针板、探针之结构示意图。
地址 台北县莺歌镇永昌街232号