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经营范围
发明名称
CMOS image sensor with test Pattern for evaluating characteristics
摘要
申请公布号
KR100477785(B1)
申请公布日期
2005.03.22
申请号
KR20020023236
申请日期
2002.04.27
申请人
发明人
分类号
H01L27/146;(IPC1-7):H01L27/146
主分类号
H01L27/146
代理机构
代理人
主权项
地址
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