发明名称 | 制造半导体记忆体位元线接触结构之方法 | ||
摘要 | 一种制造半导体记忆体位元线接触结构之方法。该制造半导体记忆体位元线接触结构之方法包含步骤系提供半导体基底;于该半导体基底表面形成多个闸极;施加第一绝缘层以覆盖该半导体基底表面及多个闸极;于该多个闸极处选择性形成多个闸极接触窗;于该第一绝缘层中选择性形成位元线接触窗,与该半导体基底连接;以及于该多个闸极接触窗及位元线接触窗中填入导电层。 | ||
申请公布号 | TW200511494 | 申请公布日期 | 2005.03.16 |
申请号 | TW092124802 | 申请日期 | 2003.09.09 |
申请人 | 南亚科技股份有限公司 | 发明人 | 林峰全;陈逸男;许平 |
分类号 | H01L21/768 | 主分类号 | H01L21/768 |
代理机构 | 代理人 | 黄庆源 | |
主权项 | |||
地址 | 桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号 |