发明名称 |
一种体硅MOS晶体管及其制作方法 |
摘要 |
本发明提供了一种体硅MOS晶体管结构及其制作方法。该体硅MOS晶体管,包括一栅电极,一栅介质层,一对栅电极侧墙介质层,一半导体体区,一源区和一漏区;栅电极位于栅介质层之上;栅介质位于半导体体区之上;半导体体区在栅电极两端的部分分别与源区和漏区相连;晶体管的源漏区的下方各有一绝缘层,绝缘层在结构上与栅电极是自对准的。在制备工艺上,绝缘层是通过填充栅电极两侧的硅槽形成,硅槽是通过自对准腐蚀栅电极两侧的体硅形成,源区和漏区是通过外延或CVD方法形成。本发明的MOS晶体管结构集SOI器件和体硅器件的优点于一体,同时消除或大大改善了SOI器件和体硅器件的主要缺点。 |
申请公布号 |
CN1595660A |
申请公布日期 |
2005.03.16 |
申请号 |
CN200410009320.X |
申请日期 |
2004.07.09 |
申请人 |
北京大学 |
发明人 |
张盛东;张志宽;陈文新;韩汝琦 |
分类号 |
H01L29/78;H01L21/336;H01L21/76;H01L21/8238 |
主分类号 |
H01L29/78 |
代理机构 |
北京君尚知识产权代理事务所 |
代理人 |
余功勋 |
主权项 |
1.一种体硅MOS晶体管,包括一栅电极,一栅介质层,一对栅电极侧墙介质层,一半导体体区,一源区和一漏区;所述栅电极位于栅介质层之上;所述栅介质位于半导体体区之上;所述半导体体区在栅电极两端的部分分别与所述源区和漏区相连,其特征在于,所述晶体管的源漏区的下方各有一绝缘层,所述绝缘层在结构上与所述栅电极是自对准的。 |
地址 |
100871北京市海淀区颐和园路5号 |