发明名称 一种体硅MOS晶体管及其制作方法
摘要 本发明提供了一种体硅MOS晶体管结构及其制作方法。该体硅MOS晶体管,包括一栅电极,一栅介质层,一对栅电极侧墙介质层,一半导体体区,一源区和一漏区;栅电极位于栅介质层之上;栅介质位于半导体体区之上;半导体体区在栅电极两端的部分分别与源区和漏区相连;晶体管的源漏区的下方各有一绝缘层,绝缘层在结构上与栅电极是自对准的。在制备工艺上,绝缘层是通过填充栅电极两侧的硅槽形成,硅槽是通过自对准腐蚀栅电极两侧的体硅形成,源区和漏区是通过外延或CVD方法形成。本发明的MOS晶体管结构集SOI器件和体硅器件的优点于一体,同时消除或大大改善了SOI器件和体硅器件的主要缺点。
申请公布号 CN1595660A 申请公布日期 2005.03.16
申请号 CN200410009320.X 申请日期 2004.07.09
申请人 北京大学 发明人 张盛东;张志宽;陈文新;韩汝琦
分类号 H01L29/78;H01L21/336;H01L21/76;H01L21/8238 主分类号 H01L29/78
代理机构 北京君尚知识产权代理事务所 代理人 余功勋
主权项 1.一种体硅MOS晶体管,包括一栅电极,一栅介质层,一对栅电极侧墙介质层,一半导体体区,一源区和一漏区;所述栅电极位于栅介质层之上;所述栅介质位于半导体体区之上;所述半导体体区在栅电极两端的部分分别与所述源区和漏区相连,其特征在于,所述晶体管的源漏区的下方各有一绝缘层,所述绝缘层在结构上与所述栅电极是自对准的。
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