发明名称 |
Método rápido e indireto de medida de espessuras de filmes poliméricos - que não possuem elementos que absorvam raios x - utilizando espectrometria de fluorescência de raios x de energia dispersiva (edxrf) |
摘要 |
"MéTODO RáPIDO E INDIRETO DE MEDIDA DE ESPESSURAS DE FILMES POLIMéRICOS - QUE NãO POSSUEM ELEMENTOS QUE ABSORVAM RAIOS X - UTILIZANDO ESPECTROMETRIA DE FLUORESCêNCIA DE RAIOS X DE ENERGIA DISPERSIVA (EDXRF)". Patente de Invenção que descreve o desenvolvimento de um método rápido e indireto de medida de espessuras de filmes poliméricos utilizando Espectrometria de Fluorescência de Raios X. No método são utilizados anteparos metálicos sob os filmes e é medida a atenuação da linha de emissão do elemento deste anteparo. Após introdução destes valores de atenuação em uma equação de calibração previamente obtida para aquele filme, é determinado a sua espessura real. Os anteparos metálicos utilizados foram de chumbo, cobre e alumínio. As medidas mostraram que o método é rápido, sendo estas realizadas em 100 segundos durante o processo de irradiação. Os valores encontrados de coeficientes de correlação das curvas analíticas obtidas mostraram que a técnica é promissora (R chegando até 1). Os limites de detecção alcançados (LD variando de 0,043 a 4,04 <109>m) mostraram valores aplicáveis para amostras reais, principalmente aquelas com interesse industrial.
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申请公布号 |
BR0301390(A) |
申请公布日期 |
2005.03.08 |
申请号 |
BR2003PI01390 |
申请日期 |
2003.05.30 |
申请人 |
UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS - UNICAMP |
发明人 |
MARIA IZABEL MARETTI SILVEIRA BUENO;ANTENOR LOPES DE JESUS JR |
分类号 |
G01N21/69;(IPC1-7):G01N21/69 |
主分类号 |
G01N21/69 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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