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发明名称
形成磷掺杂而包含层之二氧化矽之方法,及于积体电路制造中形成沟渠隔离之方法
摘要
本发明系揭示一种形成一磷掺杂而包含层之二氧化矽之方法,以及一种于积体电路制造中形成沟渠隔离之方法。一项实施方案中,一种形成一磷掺杂而包含层之二氧化矽之方法包括将一基板定位于一沈积室内。在对沈积一磷掺杂而包含层之二氧化矽至该基板有效的状况下,在复数个沉积循环中将第一及第二汽相反应物以交替及时间上分离脉冲方式引入该室内的该基板。该等第一及第二汽相反应物之一系PO(OR)3,其中R系烃基,该等第一及第二汽相反应物中的另一个系Si(OR)3OH,其中R系烃基。
申请公布号
TW200509243
申请公布日期
2005.03.01
申请号
TW093120255
申请日期
2004.07.06
申请人
麦克隆科技公司
发明人
布莱恩A 维尔姿
分类号
H01L21/306
主分类号
H01L21/306
代理机构
代理人
陈长文
主权项
地址
美国
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