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Verfahren zur berührungslosen Messung von Änderungen einer Ausdehnung eines auf einen Gegenstand 15 aufgebrachten Probekörpers 1, 14, wobei insbesondere Änderungen des Probekörpers 1, 14 im Sub-Mikrometer-Bereich zwischen 10 nm und 500 nm gemessen werden, wobei der Probekörper 1, 14 von einem Sender 12, insbesondere einer Lichtquelle, mit Primärstrahlung beaufschlagt wird, wobei vermittels eines Empfängers 13 die vom Probekörper 1, 14 modifizierte Primärstrahlung als Sekundärstrahlung aufgenommen wird, wobei aus dem Grad der Modifikation die Änderung der Ausdehnung ermittelt wird, wobei bei der Änderung der Ausdehnung eine Änderung der modifizierten Primärstrahlung beobachtet wird, wobei die Modifikation durch eine Anregung von Plasmonen im Probekörper 1, 14 hervorgerufen ist und wobei die Plasmonen in Nanopartikeln (Partikel-Plasmonen) angeregt werden, die auf der Oberfläche des Probekörpers 1, 14 sich befinden.
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