发明名称 | 非挥发性存储单元及其形成方法 | ||
摘要 | 一种形成一非挥发性存储单元的方法,包括于一基底表面上形成含有一电子捕捉层的一组成叠层。于组成叠层上形成一介电层,再去除部分以便沿组成叠层侧壁有介电层的剩余物的存在。之后,于邻近组成叠层的基底中的一位线上形成一氧化层,再于组成叠层及氧化层上形成一导电层。一描述的非挥发性存储单元包括在一基底表面上的一组成叠层,此一组成叠层包括一电子捕捉层。多个介电间隙壁沿着组成叠层侧壁配置。一氧化层位于邻近组成叠层的基底中的一位线上,以及一导电层位于组成叠层及氧化层上。 | ||
申请公布号 | CN1577806A | 申请公布日期 | 2005.02.09 |
申请号 | CN200410048252.8 | 申请日期 | 2004.06.14 |
申请人 | 旺宏电子股份有限公司 | 发明人 | 许富雄;刘振钦 |
分类号 | H01L21/8247;H01L27/115 | 主分类号 | H01L21/8247 |
代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人 | 王学强 |
主权项 | 1.一种形成非挥发性存储单元的方法,其特征是,该方法包括:于一基底的一表面上形成至少一非挥发性存储单元的一组成叠层,其中该组成叠层包括一电子捕捉层;于该组成叠层上形成一介电层;去除部分该介电层,以便沿该组成叠层的侧壁有该介电层的一剩余物的存在;于邻近该组成叠层的该基底中的一位线上形成一氧化层;以及于该组成叠层及该氧化层上形成一第一导电层。 | ||
地址 | 台湾省新竹科学工业园区力行路16号 |