发明名称 | 用来试验组合型磁头的方法和设备 | ||
摘要 | 一种用来试验带有一个MR元件和一个感应元件的组合型磁头的方法,包括:一个电流施加步骤,把电流施加到感应元件上,而不把外部磁场施加到磁头上;和一个测量步骤,在电流施加步骤结束之后,测量MR元件的输出特性。 | ||
申请公布号 | CN1188838C | 申请公布日期 | 2005.02.09 |
申请号 | CN00101177.4 | 申请日期 | 2000.01.28 |
申请人 | TDK株式会社 | 发明人 | 蜂须贺望;稻毛健治;前田寿昭 |
分类号 | G11B5/455;G11B5/33;G01R33/12 | 主分类号 | G11B5/455 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 马浩 |
主权项 | 1.一种用来试验带有一个磁阻效应元件和一个感应元件的组合型磁头的方法,所述方法包括:一个电流施加步骤,把电流施加到所述感应元件上,而不把外部磁场施加到所述磁头上;一个测量步骤,在所述电流施加步骤结束之后,测量所述磁阻效应元件的输出特性;和一个根据由所述测量步骤得到的输出特性判断所述磁阻效应元件在其偏压点附近的输出出现不稳定性的步骤。 | ||
地址 | 日本东京都 |