| 摘要 |
<P>L'invention a pour objet un système de mesure pour la caractérisation des matériaux c'est-à-dire la détermination de leurs propriétés optiques telles que la brillance, l'aspect de surface, la transparence, la couleur (pigments et colorants) et les effets de couleur (nacrés ou métallisés).Selon l'invention, il comporte un dispositif optique d'illumination de l'échantillon (110, 103, 108), un dispositif optique de mesure (100, 102) de la lumière réfléchie par l'échantillon pour traitement par un dispositif de décomposition spectrale (400), une structure mécanique support (300) du dispositif de mesure optique placée au-dessus de l'échantillon, le dispositif optique de mesure comprenant une optique (101, 102) de formation de plusieurs points de mesure simultanée sous plusieurs angles de l'échantillon.</P> |
