发明名称 PROCEDE ET DISPOSITIF DE DETERMINATION D'UN COEFFICIENT D'APLATISSEMENT D'UN MATERIAU
摘要 <P>L'invention concerne un procédé et un dispositif de détermination d'un coefficient d'aplatissement (A%) d'un matériau divisé, en particulier d'un granulat. Le procédé comporte les étapes suivantes :a) on amène un matériau divisé composé d'au moins une particule (12),b) on projette une ombre (28) de ladite particule (12),c) on approche ladite ombre (28) par une ellipse (32),d) on détermine des données de ladite ellipse (32),e) on détermine une longueur et une grosseur de ladite particule à partir desdites données de l'ellipse (32),f) on détermine un facteur d'allongement d'une particule (12) à l'aide de ladite longueur et ladite grosseur de ladite particule (12),g) on trace une courbe de distribution des facteurs d'allongement,h) on construit une courbe de distribution des facteurs d'aplatissement en transformant ladite courbe de distribution des facteurs d'allongement, eti) on détermine un coefficient d'aplatissement (A%) sur ladite courbe de distribution des facteurs d'aplatissement.</P>
申请公布号 FR2858411(A1) 申请公布日期 2005.02.04
申请号 FR20030009555 申请日期 2003.08.01
申请人 LABORATOIRE CENTRAL DES PONTS ET CHAUSSEES;LAFARGE 发明人 BOUQUETY MARIE NOELLE;DESCANTES YANNICK J;DE LARRARD FRANCOIS
分类号 G01N15/02;G01N15/14;(IPC1-7):G01N15/02;G01N33/38 主分类号 G01N15/02
代理机构 代理人
主权项
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