发明名称 |
接触探头、探头插座、电特性测量装置和接触探头的接触方法 |
摘要 |
一种接触探头、探头插座、电特性测量装置和接触探头的接触方法,该接触探头(5),其特征在于:具备探头部(11a)和缓冲部(12a),该探头部(11a)由具有一端(21a1)设置开口(21a4)并且另一端(21a3)被封闭的有底孔(21a2)的第1套管(21a)、进退自如地容纳于该第1套管(21a)内的探针(22a)、以及安装在所述有底孔(21a2)内并朝所述开口(21a4)一侧对所述探针(22a)施加弹力的第1弹簧(23a)构成;所述缓冲部(12a)安装在所述第1套管(21a)的另一端(21a3)并弹性支撑所述第1套管(21a)。因此,可防止被测量对象物的静电破坏,并且能够正确测量电特性。 |
申请公布号 |
CN1573338A |
申请公布日期 |
2005.02.02 |
申请号 |
CN200410048568.7 |
申请日期 |
2004.06.08 |
申请人 |
阿尔卑斯电气株式会社 |
发明人 |
后藤章文 |
分类号 |
G01R1/06;G01R1/073 |
主分类号 |
G01R1/06 |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
刘建 |
主权项 |
1.一种接触探头,其特征在于:具备探头部和缓冲部,所述探头部由具有一端设置开口并且另一端被封闭的有底孔的第1套管、进退自如地容纳于该第1套管的有底孔内的探针、以及安装在所述有底孔内并对所述探针施加朝向所述开口一侧的弹力的第1弹簧构成;所述缓冲部安装在所述第1套管的另一端侧并弹性支撑所述第1套管。 |
地址 |
日本东京都 |