发明名称 测试语言转换方法
摘要 一种将于原始循环为主测试语言之测试向量转换为一目标循环为主测试语言之方法。该方法包含步骤有:形成一组样板,其描述定义于目标测试语言中之波形;分解于原始测试语言中之波形成为一组组成事件,其中每一事件包含资料,诸资料显示至少一开始值及波形之若干后续边缘;将样板与该组事件作比较;当检测出一匹配时,将波形资料储存于目标测试语言中及取回于原始测试语言中之波形的相关参数;及对原始测试语言中之所有测试向量,重覆上述步骤,藉以形成目标测试语言的测试向量档案。
申请公布号 TWI227329 申请公布日期 2005.02.01
申请号 TW089119684 申请日期 2000.09.22
申请人 艾德文斯特公司 发明人 布鲁斯.帕那斯
分类号 G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 1.一种将于一原始循环为主测试语言之测试向量转换为目标循环为主测试语言之转换测试向量的方法,包含步骤有:读取定义于目标测试语言中之可用波形,并形成一组描述波形之样板,其中,每一样板相当于目标测试语言之一波形及包含资料,该资料至少显示波形部份之开始値及于波形中之后续边缘的号数;读取原始测试语言之测试向量并将于原始测试语言中之测试向量中之波形分解为一组组成事件,其中,每一组成事件包含资料,该资料至少显示一开始値及波形之后续边缘的号数;比较由目标测试语言中之波形所导出之样板与由原始测试语言导出之该组组成事件;储存波形资料于目标测试语言中,当一匹配系于比较步骤中检出,并取回于原始测试语言之测试向量中之波形之相当参数,并,组合匹配波形资料以储存参数;对于所有于原始测试语言中之测试波形重覆上述步骤,藉以形成于目标测试语言中之波形的代表。2.如申请专利范围第1项所述之转换测试向量的方法,其中该比较样板与该组组成事件的步骤包含于不同抽象层应用比较演绎法的步骤,其系以顺序为一信号层;一波种层,其中信号系为多数波种所架构;及一字元层,其中波种系为多数字元所架构。3.如申请专利范围第1项所述之转换测试向量的方法,其中该组组成事件系储存于一表格式中,该格式具有行以指定以显示后续边缘号数及开始値之资料。4.如申请专利范围第3项所述之转换测试向量的方法,其中该储存该组组成事件之表系藉由基于由前一组成事件所产生之结束状态,而研究特定组成事件之开始値加以最佳化,藉以简化于表中之资料。5.如申请专利范围第1项所述之转换测试向量的方法,其中该测试向量包含驱动信号,其系被施加至待测装置(DUT)作为一输入及选通信号,以取样DUT之输出作为评估,其中于原始测试语言中之选通信号系直接被转换为目标测试语言时,于原始测试语言中之驱动信号系藉由比较样板及该组组成事件而检测匹配,而被转换为目标测试语言。6.如申请专利范围第1项所述之转换测试向量的方法,其中于原始测试语言中之波形系为资源限定需要所指定给目标测试语言之多数次循环,其中多数次循环系藉由多工测试系统中之测试循环时钟加以创造,该测试系统系可为目标测试语言所操作。7.如申请专利范围第1项所述之转换测试向量的方法,其中于原始测试语言中之波形系指定给目标测试语言之多数测试通道,其中多数测试通道系以一为目标测试语言所作之测试系统所架构的方式,被多工连接至DUT之单一接脚。8.一种将于一标准测试界面语言(STIL)之测试向量转换为目标循环为主测试语言之方法,包含步骤有:读取定义于目标测试语言中之可用波形,并形成一组描述波形之样板,其中,每一样板相当于一目标测试语言之一波形及包含资料,该资料至少显示波形部份之开始値及于波形中之后续边缘的号数;读取STIL格式之测试波形并将于STIL格式之测试向量中之波形分解为一组组成事件,其中,每一组成事件包含资料,该资料至少显示一开始値及波形之后续边缘的号数;比较由目标测试语言中之波形所导出之样板与由STIL中波形导出之该组组成事件;当一匹配系于比较步骤中检出时,储存波形资料于目标测试语言中,并取回于STIL测试向量中之波形之相当参数,并,组合匹配波形资料以储存参数;对于所有于STIL中之测试向量重覆上述步骤,藉以形成目标测试语言之测试向量档案。图式简单说明:第1图为一图表,显示成为STIL格式例,其描述于数位测试向量中之信号或言号群,诸测试向量构成想要之测试向量。第2图为一图表,显示成为STIL格式例,其描述于每一构成诸波形之信号中之边缘时序。第3图为一图表,显示成为STIL格式例,其描述于每一构成波形之信号中之向量图案。第4图为一图表,显示成为STIL格式例,其描述构成想要波形之测试向量中之图案流程。第5图为一图表,其显示成为TDL(测试目的语言)格式例,其系为对于由本案受让人所开发之ATE系统的固有测试语言。第6A图为一示意图,显示依据本发明之语言转换基本原则,及第6B图为一示意图,显示本发明之测试语言转换中之功能架构例。第7图为一图表,显示STIL架构例及一等效TDL代表,及基于TDL代表之波形样板。第8图为一图表,显示STIL架构之其他例子,相应于STIL结构之波形,及TDL代表。第9图为一图表,其显示STIL架构之另一例子,相应于STIL结构之波形,及用以解释最佳波形之TDL代表。第10A及10B图为表格,显示阵列例,其描述代表于STIL测试向量中之分解事件之边缘数及开始値,用以进行本发明之图案匹配。第11图为一流程图,显示于本发明之波种匹配于不同位准测试向量中之程序。第12图为一流程图,其显示本发明之波种匹配中,由前一循环至下一循环之程序。第13图为一图表,显示转换STIL测试向量至TDL之多时钟测试向量之基本想法,当待测元件接脚之类型系适用于此等多时钟信号时。第14图为一波形图表,其显示转换STIL测试向量用TDL之接脚多工测试向量之基本想法。
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