发明名称 | 用以降低光阻剂厚度及通道电阻之导线及接触窗形成方法 | ||
摘要 | 揭示一种半导体装置中导线及接触窗之形成方法。本方法包括步骤有提供一基底;于基底上形成第一介电层;于第一介电层挖出一通道,并于该通道中填入金属;于包括该通道之第一介电层上形成导体层;于导体层上形成金属层;移除导体层以及金属层不需要的部份形成开口,而留下的导体层/金属层形成导线部分;涂覆一第二介电层以填入开口,并加以平坦化处理,使导线部分露出;形成第三介电层;于第三介电层上形成具有预定图案之光阻剂;移除第三介电层之预定部份以形成接触窗;以及移除光阻剂。 | ||
申请公布号 | TW200503160 | 申请公布日期 | 2005.01.16 |
申请号 | TW092118466 | 申请日期 | 2003.07.07 |
申请人 | 南亚科技股份有限公司 | 发明人 | 林智清;陈逸男 |
分类号 | H01L21/768 | 主分类号 | H01L21/768 |
代理机构 | 代理人 | 黄庆源 | |
主权项 | |||
地址 | 桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路六六九号 |