发明名称 半导体图案化光阻层之重作制程
摘要 一种半导体图案化光阻层之重作制程。首先,提供一基板,基板上系依序形成有第一抗反射介质覆层、第一光阻助黏层及第一图案化光阻层。接着,去除第一抗反射介质覆层上之第一图案化光阻层及第一光阻助黏层,例如以湿式剥离法完成。然后,形成第二抗反射介质覆层于第一抗反射介质覆层上。然后,形成第二光阻助黏层于第二抗反射介质覆层上。接着,形成第二图案化光阻层于第二光阻助黏层上。
申请公布号 TW200503066 申请公布日期 2005.01.16
申请号 TW092118533 申请日期 2003.07.07
申请人 旺宏电子股份有限公司 发明人 颜裕林;张庆裕
分类号 H01L21/027 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人 林素华
主权项
地址 新竹市新竹科学园区力行路十六号