发明名称 | 半导体图案化光阻层之重作制程 | ||
摘要 | 一种半导体图案化光阻层之重作制程。首先,提供一基板,基板上系依序形成有第一抗反射介质覆层、第一光阻助黏层及第一图案化光阻层。接着,去除第一抗反射介质覆层上之第一图案化光阻层及第一光阻助黏层,例如以湿式剥离法完成。然后,形成第二抗反射介质覆层于第一抗反射介质覆层上。然后,形成第二光阻助黏层于第二抗反射介质覆层上。接着,形成第二图案化光阻层于第二光阻助黏层上。 | ||
申请公布号 | TW200503066 | 申请公布日期 | 2005.01.16 |
申请号 | TW092118533 | 申请日期 | 2003.07.07 |
申请人 | 旺宏电子股份有限公司 | 发明人 | 颜裕林;张庆裕 |
分类号 | H01L21/027 | 主分类号 | H01L21/027 |
代理机构 | 代理人 | 林素华 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学园区力行路十六号 |