发明名称 微镜检测方法及其检测装置
摘要 一种微镜检测方法,包括下述步骤,先将微镜元件设于承座之微镜承靠面。再利用光源朝向微镜元件射出光束。光束从微镜元件反射至靶面,并在该靶面上投射出一第二光点。量测该第二光点相对于基准点的距离X,并藉此计算微镜元件于承座上的倾斜度。
申请公布号 TW200502526 申请公布日期 2005.01.16
申请号 TW092118164 申请日期 2003.07.03
申请人 明基电通股份有限公司 发明人 郭建峰
分类号 G01B11/26 主分类号 G01B11/26
代理机构 代理人 洪澄文;颜锦顺
主权项
地址 桃园县龟山乡山莺路一五七号