发明名称 |
获得眼镜光学中心安装透镜支架和生产透镜的方法及设备 |
摘要 |
在未切削的透镜的光学表面的位置A0处测量棱镜量值并通过计算获得用于计算光学中心的位置A1。当A0与A1之间的距离等于或小于特定值时,将A0暂时确定为阻挡位置,将A1确定为光学中心。当上述距离超过特定值时,将测量棱镜量值等的位置改变成A1,按类似方式获得第二位置A2。通过执行类似步骤,可确定光学中心并暂时确定阻挡的位置。检查是否会出现处理干扰,在没有干扰时,进行阻挡。在有干扰时,选定无处理干扰的位置并进行阻挡。 |
申请公布号 |
CN1184505C |
申请公布日期 |
2005.01.12 |
申请号 |
CN01137093.9 |
申请日期 |
2001.10.23 |
申请人 |
保谷株式会社 |
发明人 |
秋山久则;神保昌宏;寒川正彦;依田寿郎 |
分类号 |
G02C13/00;G01M11/02;B24B9/14 |
主分类号 |
G02C13/00 |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人 |
刘志平 |
主权项 |
1.一种用于获得眼镜镜片的光学中心的方法,所述方法包括下列步骤:(a)使用用来测量眼镜镜片的光学属性的透镜检测仪测量在眼镜镜片上的第一测量位置处的光学属性,其中透镜检测仪得到被测量的光学属性的值,所述测量的光学属性包括棱镜度;(b)使用通过测量在第一测量位置处的光学属性而得到的值,根据特定的关系式计算对于眼镜镜片的光学中心的第一估计位置,之后将获得的第一估计位置作为光学中心的第一计算位置;(c)当在第一测量位置与光学中心的第一计算位置之间的距离等于或小于特定基准值时,断定光学中心的第一计算位置足以等效于真实光学中心的位置;(d)当在第一测量位置与光学中心的第一计算位置之间的距离超过特定基准值时,使用透镜检测仪测量在光学中心的第一计算位置处的光学属性,并且使用通过在第一计算位置处进行测量得到的值、根据特定的关系式计算光学中心的第二计算位置;(e)当在光学中心的第一计算位置与第二计算位置之间的距离等于或小于特定基准值时,断定光学中心的第二计算位置足以等效于真实光学中心的位置;(f)当在光学中心的第一计算位置与第二计算位置之间的距离超过特定基准值时,进入反复逼近过程,该过程包括使用透镜检测仪测量在光学中心的以前计算位置处的光学属性、随后使用通过在以前计算位置处进行测量得到的值、根据特定的关系式而计算光学中心的以后计算位置的步骤;当在以前计算位置与以后计算位置之间的距离等于或小于特定基准值时,结束反复逼近过程并断定光学中心的以后计算位置足以等效于真实光学中心的位置;当在以前计算位置与以后计算位置之间的距离超过特定基准值时,重复测量以前计算位置、随后计算以后计算位置的反复逼近过程步骤;以及(g)当断定光学中心的计算位置足以等效于真实光学中心的位置时,终止该方法。 |
地址 |
日本东京都 |