| 主权项 |
1.一种电子零件特性测试之探针结构改良,其特征 在于包含有:一回转盘,系设置与一机台连结之转 轴上,该转轴之一端系连结有一驱动源,而该回转 盘外周缘系形成有复数个可放置电子零件之置放 槽,而置放槽之上方相对应处系设置有一对弹线式 探针,该弹线式探针系为一具弹力之线状体,而该 弹线式探针之线段中间处系缠绕于一杆体,该杆体 系为一端呈固定状之杆件,而弹线式探针之另一端 系固定于一讯号接收端上。 2.依据专利申请范围第1项所述之电子零件特性测 试之探针结构改良,其中,该弹线式探针之一端系 利用弹力摩擦接触之原理压触于电子零件之端电 极藉由弹线式探针之弹力摩擦接触原理检测电子 零件,可使受测之电子零件不易晃动或移位,达到 有效检测及可得准确之检测数値。 3.依据专利申请范围第1项所述之电子零件特性测 试之探针结构改良,其中,该弹线缠绕于杆体上可 使弹线式探针减少阻抗,且可使弹线式探针缠绕定 位于杆体上以增加弹线之弹力。 4.依据专利申请范围第1项所述之电子零件特性测 试之探针结构改良,其中,该弹线式探针系可设置 于回转盘上方,系可形成由上往下检测之态样。 5.依据专利申请范围第1项所述之电子零件特性测 试之探针结构改良,其中,该弹线式探针系可设置 于回转盘下方,系亦可形成由下往上检测之态样。 6.依据专利申请范围第1项所述之电子零件特性测 试之探针结构改良,其中,该讯号接收端系可收取 弹线式探针检测后之检测数値,并判别系为良品与 否。 图式简单说明: 第一图 系为习知之电子零件测试机构示意图。 第二图 系为习知之测试探针实施例示意图。 第三图 系为本创作弹线式探针结构示意图。 第四图 系为本创作之弹线式探针局部示意图。 第五图 系为本创作之弹线式探针立体示意图。 |
