发明名称 记忆体制造方法
摘要 一种记忆体制造方法,包括以下步骤:依序于一基板上形成一绝缘层、一多晶矽层及一遮罩层;蚀刻遮罩层以暴露出部分之多晶矽层,并定义出第一、第二、及第三图案化区域,第三图案化区域系位于第一及第二图案化区域之间,而多晶矽层之暴露部分系位于第一及第二图案化区域;蚀刻位于第二图案化区域之多晶矽层;植入掺杂于基板中以于第二图案化区域形成一第一掺杂区;氧化基板以于第一图案化区域形成第一氧化矽区域;移除遮罩层;以第一氧化矽区域为遮罩蚀刻多晶矽层以形成一闸极;以及植入掺杂于基板中以形成一第二掺杂区。
申请公布号 TW200501334 申请公布日期 2005.01.01
申请号 TW092117859 申请日期 2003.06.30
申请人 徐松睦 发明人 徐松睦
分类号 H01L21/8247 主分类号 H01L21/8247
代理机构 代理人 刘正格
主权项
地址 新竹市瑞麟路五十二号