Mehrport-Speicher-Prüfverfahren unter Verwendung eines Sequenzfaltungsschemas zum Reduzieren der Prüfzeit

摘要

Erfindungsgemäß wird ein Verfahren zum Prüfen eines Mehrport-Speichers gemäß einem Prüfmuster bereitgestellt, wobei Prüfkontaktsignale (clk A, clk B, clk C) mit der gleichen Prüftaktfrequenz, aber mit verschiedenen Verzögerungszeiten zum Steuern eines Speicherzugriffs über die verschiedenen Zugriffsports (Port A, Port B, Port C) des Speichers erzeugt werden. Dann werden aufeinanderfolgende Speicheroperationen eines Prüfelements des Prüfmusters in einer gefalteten Sequenz bezüglich einer Speicherzelle über die verschiedenen Zugriffsports (Port A, Port B, Port C) gemäß den Prüftaktsignalen (clk A, clk B, clk C) derart ausgeführt, daß die Speicheroperationen innerhalb des gleichen Prüftaktzyklus des Prüfelements abgeschlossen werden.