发明名称 静电防护环套之测试仪
摘要 本创作系提供一种静电防护环套之测试仪,人体配戴一套环,套环接线至测试仪上,该测试仪有一金属按钮供人体触摸,该测试仪含有:一固定电容,当作充电电容兼旁路电容消除杂讯;两组电流放大电路,手与脚防护套环阻抗级数不同,电流放大电路将充电速率放大以加速测试时间;两组比较电路,一组比较电路产生手防护套环充电时间,另一组比较电路产生脚防护套环充电时间;比较用时间产生电路,其系低阻抗时间产生电路与高阻抗时间产生电路,将标准低阻抗放在被测位置,测试仪可以调整 VR1,可得标准低阻抗充电时间,将标准高阻抗放在被测位置,测试仪可以调整VR2,可得标准高阻抗充电时间;一微电脑晶片控制,透过固定电容之C1、高阻抗电路之C4及低阻抗电路之C2开始充电时间,经两组比较电路,电脑晶片监看信号可得测试结果,人体加上静电防护套环之阻抗是否在高、低阻抗之间并显示之。
申请公布号 TWM250151 申请公布日期 2004.11.11
申请号 TW092218208 申请日期 2003.10.13
申请人 袁骏安 发明人 袁骏安
分类号 G01R29/12 主分类号 G01R29/12
代理机构 代理人
主权项 一种静电防护环套之测试仪,人体配戴一套环,套环接线至测试仪上,该测试仪有一金属按钮供人体触摸,该测试仪含有:一固定电容,当作充电电容兼旁路电容消除杂讯;两组电流放大电路,手与脚防护套环阻抗级数不同,电流放大电路将充电速率放大以加速测试时间;两组比较电路,一组比较电路产生手防护套环充电时间,另一组比较电路产生脚防护套环充电时间;比较用时间产生电路,其系低阻抗时间产生电路与高阻抗时间产生电路,将标准低阻抗放在被测位置,测试仪可以调整VR1,可得标准低阻抗充电时间,将标准高阻抗放在被测位置,测试仪可以调整VR2,可得标准高阻抗充电时间;一微电脑晶片控制,透过固定电容之C1、高阻抗电路之C4及低阻抗电路之C2开始充电时间,经两组比较电路,电脑晶片监看信号可得测试结果,人体加上静电防护套环之阻抗是否在高、低阻抗之间并显示之。图式简单说明:第一图系本创作套环及测试仪之立体示意图。第二图系本创作套环及接线接头之平面示意图。第三图系本创作测试仪之电路板电子线路示意图。
地址 台北县三重市民生街六十一巷二十九号