INPUT CIRCUIT AND METHOD FOR THE OPERATION THEREOF

摘要

Es wird eine durch gesteuerte Aufschaltung eines High- oder Low-Pegels testbare Eingangsschaltung (1') mit einem Verzögerungsglied (40) sowie ein Verfahren zu deren Betrieb angegeben, bei der/bei dem die Verzögerungszeit des Verzögerungsgliedes (40) während des Betriebs der Eingangsschaltung (1') veränderbar ist, wobei gemäss einer Ausgestaltung die verstrichene Verzögerungszeit vor dem Test der Eingangsschaltung (1') ausgelesen und nach dem Test wieder hergestellt wird, so dass sich keine Erhöhung der für Prozesssignale wirksamen Eingangsverzögerung durch den Test ergibt und zusätzlich oder alternativ vor dem Test die Verzögerungszeit auf einen Minimalwert gesetzt wird, so dass ein schneller Test der Eingangsschaltung (1') unabhängig von der eingestellten Verzögerungszeit möglich wird.