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Anordnung zur Justierung oder Überprüfung mindestens einer Komponente einer lichterzeugenden Vorrichtung, umfassend eine Halbleiterlasereinheit (1) oder eine Leuchtdiode, mindestens ein optisches Bauteil, durch das im Betriebszustand der lichterzeugenden Vorrichtung das von mindestens einer Austrittsfläche der Halbleiterlasereinheit (1) oder der Leuchtdiode ausgehende Licht hindurchtreten kann, eine Lichtquelle für die Erzeugung von Licht (3) für die Justierung des mindestens einen optischen Bauteils oder für die Überprüfung der Halbleiterlasereinheit (1), Strahlführungsmittel, die das von der Lichtquelle erzeugte Licht (3) der mindestens einen Austrittsfläche der Halbleiterlasereinheit (1) oder der Leuchtdiode zuführen können, wobei die Anordnung Detektionsmittel umfasst, die von der mindestens einen Austrittsfläche der Halbleiterlasereinheit (1) oder der Leuchtdiode ausgehendes Licht (5) derart erfassen können, dass das von den Detektionsmitteln erfasste Licht der Justierung des mindestens einen optischen Bauteils oder der Überprüfung der Halbleiterlasereinheit (1) dienen kann. Weiterhin betrifft die vorliegende Erfindung ein Verfahren zur Justierung oder Überprüfung mindestens einer Komponente einer lichterzeugenden Vorrichtung.
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