发明名称 | 介孔二氧化硅分子筛 | ||
摘要 | 一种介孔二氧化硅分子筛,特征是硅离子与掺杂离子的摩尔数之比为1∶X,其中0≤X<0.07,掺杂离子为周期表中IA、IIA、IIIA、VA、VIA、IVB、VB、VIB、VIIB、IB、IIB族以及重稀土金属的元素之一种或多种,BET比表面积至少300m<SUP>2</SUP>/g,中孔孔径2~20nm,具有六方电子衍射花样,其制备是将硅源、模板剂、水和水溶性辅助溶剂、掺杂离子按一定摩尔比混合,分别在酸和碱性条件下反应,经过滤、干燥、焙烧后得到产品。本发明在常温常压下反应,工艺简单,生产成本低,易于工业化生产。 | ||
申请公布号 | CN1539734A | 申请公布日期 | 2004.10.27 |
申请号 | CN03116554.0 | 申请日期 | 2003.04.22 |
申请人 | 上海化工研究院 | 发明人 | 侯秀红;曾埙 |
分类号 | C01B37/02;C01B37/06 | 主分类号 | C01B37/02 |
代理机构 | 上海华工专利事务所 | 代理人 | 谢世杰 |
主权项 | 1、一种由掺杂二氧化硅材料构成的介孔二氧化硅分子筛,其特征在于硅离子与掺杂离子的摩尔数之比为1∶X,其中0≤X<0.07,X为掺杂离子的摩尔数之和,掺杂离子为周期表中IA、IIA、IIIA、VA、VIA、IVB、VB、VIB、VIIB、IB、IIB族以及重稀土金属的元素之一种或多种,BET比表面积至少300m2/g,中孔孔径2~20nm,具有六方电子衍射花样。 | ||
地址 | 200062上海市云岭东路345号 |