发明名称 介孔二氧化硅分子筛
摘要 一种介孔二氧化硅分子筛,特征是硅离子与掺杂离子的摩尔数之比为1∶X,其中0≤X<0.07,掺杂离子为周期表中IA、IIA、IIIA、VA、VIA、IVB、VB、VIB、VIIB、IB、IIB族以及重稀土金属的元素之一种或多种,BET比表面积至少300m<SUP>2</SUP>/g,中孔孔径2~20nm,具有六方电子衍射花样,其制备是将硅源、模板剂、水和水溶性辅助溶剂、掺杂离子按一定摩尔比混合,分别在酸和碱性条件下反应,经过滤、干燥、焙烧后得到产品。本发明在常温常压下反应,工艺简单,生产成本低,易于工业化生产。
申请公布号 CN1539734A 申请公布日期 2004.10.27
申请号 CN03116554.0 申请日期 2003.04.22
申请人 上海化工研究院 发明人 侯秀红;曾埙
分类号 C01B37/02;C01B37/06 主分类号 C01B37/02
代理机构 上海华工专利事务所 代理人 谢世杰
主权项 1、一种由掺杂二氧化硅材料构成的介孔二氧化硅分子筛,其特征在于硅离子与掺杂离子的摩尔数之比为1∶X,其中0≤X<0.07,X为掺杂离子的摩尔数之和,掺杂离子为周期表中IA、IIA、IIIA、VA、VIA、IVB、VB、VIB、VIIB、IB、IIB族以及重稀土金属的元素之一种或多种,BET比表面积至少300m2/g,中孔孔径2~20nm,具有六方电子衍射花样。
地址 200062上海市云岭东路345号