半导体装置之检查电路、及检查方法

摘要

本发明系复数之NAND电路具有藉由复数之反向器所串联之构造，和复数之NOR电路藉由前述复数之反向器所串联之构造，设置于画素部之复数各源极信号线，系连接于NAND电路及NOR电路之输入端，从串联连接之NAND电路及NOR电路之最后段获得检查输出。如此一来，藉由小规模之电路将提供简单且可正确判断不良之检查电路及其方法。