发明名称 具有局部蚀刻闸极之半导体结构及其制作方法
摘要 本发明关于一种局部蚀刻闸极之半导体结构的制作方法,包括:提供一半导体基底,于该半导体基底上具有至少两邻近之闸极结构,其中上述闸极结构系由形成于半导体基底之一闸极介电层、一闸极导电层以及一上盖层所构成,且上述闸极结构之各侧边覆盖有一衬垫层;依序形成一保护层及一罩幕层于上述闸极结构上;于罩幕层内定义出至少一开口,并蚀刻部份上述开口内之该保护层,以部份露出开口内两邻近闸极结构单一侧边上之衬垫层;蚀刻去除上述部份露出之衬垫层,且可选择地部份去除邻近此些露出衬垫层之闸极导电层;去除罩幕层及保护层;以及形成一侧壁子覆盖于上述闸极结构各侧壁上,以形成复数个单一侧边具有局部蚀刻之闸极结构。此外,本发明亦提供了上述之一种具有局部蚀刻闸极之半导体结构。
申请公布号 TW200421462 申请公布日期 2004.10.16
申请号 TW092107601 申请日期 2003.04.03
申请人 茂德科技股份有限公司 发明人 李岳川;董明圣
分类号 H01L21/28;H01L21/768 主分类号 H01L21/28
代理机构 代理人 洪澄文;颜锦顺
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行路十九号三楼