| 发明名称 |
PROCEDE POUR TESTER DES PUCES A SEMI-CONDUCTEURS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
FR2824916(B1) |
申请公布日期 |
2004.10.08 |
| 申请号 |
FR20020005896 |
申请日期 |
2002.05.14 |
| 申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
HARTMANN UDO;KALLSCHEUER JOCHEN;BEER PETER |
| 分类号 |
G11C29/12;G01R31/28;G01R31/26;G01R31/30;G06F11/26;G11C29/14;G11C29/46;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G01R31/317;G11C29/00 |
主分类号 |
G11C29/12 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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