发明名称 ZnO系半导体装置
摘要 为了提供具有稳定p型ZnO层之ZnO系半导体装置,用具有高浓度之氮原子掺杂ZnO薄膜。藉由制造稳定之p型ZnO层,即可与制作容易的n型ZnO层组合,或与不同组成的p型层或n型层组合,而能提供各种形态之ZnO系半导体装置。
申请公布号 TW200418247 申请公布日期 2004.09.16
申请号 TW093102585 申请日期 2004.02.05
申请人 罗姆股份有限公司 发明人 中原健
分类号 H01S5/347 主分类号 H01S5/347
代理机构 代理人 洪武雄;陈昭诚
主权项
地址 日本