发明名称 |
倒装芯片的高性能硅接触 |
摘要 |
本发明提供了一种半导体基片(12),它包含前(14)、后(16)表面并有穿过基片在前(14)、后(16)表面之间伸展的小孔(18、20、22)。小孔(18、20、22)部分地由内壁部分界定并形成外部导电壳层。在贴近至少是一些内壁部分处形成导电材料(54)。接着,在孔内在导电材料上面径向朝内形成一层电介质材料(56)。然后在孔内在电介质材料层(56)上面径向朝内形成一层第二导电材料(60)。后一导电材料构成内部导电同轴线部件。 |
申请公布号 |
CN1528018A |
申请公布日期 |
2004.09.08 |
申请号 |
CN02807548.X |
申请日期 |
2002.02.01 |
申请人 |
微米技术有限公司 |
发明人 |
L·福尔贝斯;K·Y·阿恩 |
分类号 |
H01L23/538;H01L21/48;H01L23/48;H01L23/498;H01L21/60 |
主分类号 |
H01L23/538 |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
吴立明;梁永 |
主权项 |
1.一种形成同轴集成电路互连线的方法,包括:提供一具有前、后表面的基片;形成以侧壁由所述前表面到所述后表面穿过所述基片伸展的小孔;在所述侧壁上形成外部导电同轴壳层;在所述外部导电同轴壳层上面径向朝内形成同轴电介质层;以及在所述同轴电介质层上面径向朝内形成内部同轴线。 |
地址 |
美国爱达荷州 |