| 摘要 |
Ein System zum Erfassen (S302) eines ersten Bildes eines Strahlungsfeldes, wobei das Strahlungsfeld von einem Strahlungsstrahl erzeugt wird; und zum Bestimmen (S303) eines zweiten Bildes, basierend auf dem ersten Bild und basierend auf einem Referenzbild eines Referenzstrahlungsfeldes, das im wesentlichen eine homogene Intensität aufweist, wobei das zweite Bild Eigenschaften des Strahlungsstrahls repräsentiert. Einige Ausführungsbeispiele liefern eine Erfassung (S801) eines ersten Profils, das mit einem Strahlungsstrahl in Zusammenhang steht, indem eine Strahlungsdetektionsvorrichtung verwendet wird, eine Erfassung (S803) eines ersten Bildes eines ersten Strahlungsfeldes, das von dem Strahlungsfeld erzeugt wird, indem eine Abbildungsvorrichtung verwendet wird, eine Bestimmung (S805) einer Abbildung zwischen dem ersten Bild und dem ersten Profil, eine Erfassung eines zweiten Bildes (S806) eines zweiten Strahlungsfeldes, indem die Abbildungsvorrichtung verwendet wird, und ein Bestimmen (S808) eines zweiten Profils, basierend auf der Abbildung und dem zweiten Bild.
|
