一种测试电可擦除电可编程存储器的性能及其故障的方法

摘要

一种测试电可擦除电可编程存储器的性能及其故障的方法，包括以下步骤：在电压条件下，(1)采用全擦全写FF00模式然后读出；(2)用全擦全写55AA模式然后读出然后读出；(3)用页擦页写模式然后读出；(4)用字节擦字节写模式然后读出；如果其性能有问题，还包括以下步骤：通过对电可擦除电可编程存储器的内部单元和电流测试电路，(5)测试其内部单元的电流大小；(6)外加对电可擦除电可编程存储器擦写时所需要的高压，测试其内部单元的电流大小。本发明的有益效果为：能在较短的时间内对EEPROM作全面的测试，保证EEPROM功能的正确与稳定；另外，如果遇到有故障的EEPROM，就可以简单快速判断它出故障的原因。

主权项

1.一种测试电可擦除电可编程存储器的性能及其故障的方法，其特征在于包括以下步骤：在电压条件下，(1)采用全擦全写FF00模式然后读出；(2)用全擦全写55AA模式然后读出；(3)用页擦页写模式然后读出；(4)用字节擦字节写模式然后读出。