发明名称 绝缘体上硅衬底和半导体集成电路器件
摘要 一种半导体IC器件包括基衬底,基衬底包括P<SUP>-</SUP>型硅,第一P<SUP>+</SUP>型硅层提供在基衬底上,N<SUP>+</SUP>型硅层和第二P<SUP>+</SUP>型硅层提供在其上的相同层中。第一P<SUP>+</SUP>型硅层和N<SUP>+</SUP>型硅层的杂质浓度高于基衬底的杂质浓度。此外,埋入氧化物层和SOI层提供在N<SUP>+</SUP>型硅层和第二P<SUP>+</SUP>型硅层整个上表面上。第一P<SUP>+</SUP>型硅层连接到地电位布线GND,N<SUP>+</SUP>型硅层连接到电源电位布线VDD。因此与电源并联连接的去耦电容器形成在P<SUP>+</SUP>型硅层和N<SUP>+</SUP>型硅层之间。
申请公布号 CN1521840A 申请公布日期 2004.08.18
申请号 CN200310123255.9 申请日期 2003.12.19
申请人 恩益禧电子股份有限公司 发明人 大窪宏明;富留宫正之;山本良太;中柴康隆
分类号 H01L21/84;H01L27/12 主分类号 H01L21/84
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人 穆德骏;陆弋
主权项 1.一种SOI衬底,包括:基衬底;设置在部分基衬底中并且电阻率低于基衬底电阻率的第一半导体区;设置在基衬底上的绝缘膜;以及设置在绝缘膜上从而形成半导体集成电路的半导体层。
地址 日本神奈川