发明名称 形成半导体装置之电晶体之方法
摘要 一种形成半导体装置的方法,其中在沈积一氮化物膜做为闸极间隔层之前,将于低温下实施缓冲用氧化膜的沈积,以避免布植于源极/汲极区域中的杂质向外扩散,藉此提供一具有低接触电阻的半导体装置,做为位元线与储存电极之用。形成半导体装置之电晶体的方法包含下列步骤:在一半导体基板上形成一闸极电极;使用闸极电极做为遮罩,将杂质以离子布植方法布植于半导体基板内,以形成一源极/汲极接面区域;于700℃以下的温度下,在所产生的结构上形成一氧化物膜;以及在闸极电极的侧壁上形成一氮化物间隔层。
申请公布号 TW200414368 申请公布日期 2004.08.01
申请号 TW092117817 申请日期 2003.06.30
申请人 海力士半导体股份有限公司 发明人 金凤洙;秦丞佑;曹豪辰
分类号 H01L21/336 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 韩国