发明名称 有效电介常数极低之互连结构及其制造方法
摘要 本发明揭示一种将电介常数(k)极低之绝缘体与铜布线合并,以达到高性能互连之结构。该布线由一较耐用低电介常数电介质支撑,如SiLk或SiO2,且一电介常数极低但不太强健之填隙电介质置放于该结构之其余部分,以便该结构可将一用于获取强度之耐用层与一用于获取互连电性能之电介常数极低之电介质加以组合。
申请公布号 TW200414429 申请公布日期 2004.08.01
申请号 TW092129168 申请日期 2003.10.21
申请人 万国商业机器公司 发明人 当劳F 卡那比尔;堤姆斯J 戴尔顿;史蒂芬M 盖特;玛哈迪凡耶 克里斯曼;沙业V 尼塔;山沛斯 普鲁休汤玛;尚恩P E 史密斯
分类号 H01L21/768 主分类号 H01L21/768
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 美国