发明名称 OPTICAL METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING SURFACES
摘要 <p>Vorrichtung zur Kontrolle einer Oberfläche (2), beispielsweise in Bandform mit einem ersten Lichtsensor (12), der einer ersten Lichtquelle (5) zugeordnet ist und einem einer zweiten Lichtquelle (6) zugeordneten zweiten Lichtsensor (14), wobei die erste Lichtquelle (5) eine erste Teilfläche und die zweite Lichtquelle (6) eine zweite Teilfläche der zu kontrollierenden Oberfläche (2) beleuchten, wobei die erste Teilfläche eine erste zentrale Flächennormale (8) aufweist und die erste Lichtquelle (5) in einem ersten Einfallswinkel (10) und der erste Lichtsensor (12) in einem ersten Ausfallswinkel (13) zur ersten zentralen Flächennormalen (8) der ersten Teilfläche ausgerichtet sind und die zweite Lichtquelle (6) in einem zweiten Einfallswinkel (17) und der zweite Lichtsensor (14) in einem zweiten Ausfallswinkel (19) zur zweiten zentralen Flächennormalen (18) der zweiten Teilfläche ausgerichtet sind, wobei die erste Lichtquelle (5) zumindest in einer Raumrichtung paralleles Licht und die zweite Lichtquelle (6) ungerichtetes Licht abstrahlt. Die gemeinsame Auswertung der durch die Beleuchtung sowohl mit gerichtetem, als auch mit ungerichtetem Licht gewonnenen Daten führt in vorteilhafter Weise zu einer hohen Fehlererkennungsrate bei hoher Zuverlässigkeit der Oberflächenkontrolle.</p>
申请公布号 WO2004063664(A1) 申请公布日期 2004.07.29
申请号 WO2004EP00084 申请日期 2004.01.09
申请人 PARSYTEC COMPUTER GMBH;BURKHARDT, STEFFEN 发明人 BURKHARDT, STEFFEN
分类号 G01B11/04;G01B11/28;G01B11/30;G01N21/89;(IPC1-7):G01B11/04 主分类号 G01B11/04
代理机构 代理人
主权项
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