具有测试装置的存储模块

摘要

一种存储模块(9)，使设置在存储模块(9)的印刷电路板(7)上之复数个积体存储芯片(1，2，3，4)的模块内部、交叉芯片电功能测试成为可能。为此，本案提供一种测试装置(5)，其与该存储芯片分开地设置在该印刷电路板(7)上。该测试装置依靠由外部测试器(10)所提供的一时钟讯号(T)且其本身并无法指示一测试结果，但其可产生执行功能测试所需要的测试讯号，且将它们藉由控制线路(11)、地址线路(12)、数据线路(13)以及用以选择个别的存储芯片的线路而转交给后者。本案的测试功能系被部分整合至测试装置中，以致于可不受外部电磁干扰的影响，且没有存储模块空间需求的过度增加。

主权项

1.一种具有一电子印刷电路板(7)与设置于其上之复数个积体存储芯片(1，2，3，4)之存储模块(9)，该存储模块(9)系具有一测试装置(5)，藉由其帮助而使执行至少一该存储芯片(1，2，3，4)的电功能测试成为可能，其中该测试装置(5)系被与该存储芯片(1，2，3，4)分开地设置在该印刷电路板(7)上，以及其系以一种方式来设计，该方式系为如果在该存储模块外部产生的一时钟讯号(T)被馈入，其产生一控制命令(COM)、一地址命令(ADR)以及将被储存的一数据值(DQ)，并将他们转交给该复数个积体存储芯片(1，2，3，4)的每个存储芯片(1；2；3；4)。