发明名称 Technik zum Verringern der Lackvergiftung bei der Herstellung einer Metallisierungsschicht mit einem Dielektrikum mit kleinem epsilon
摘要 Während der Herstellung einer Metallisierungsschicht gemäß dem "Kontaktloch zuerst/Graben zuletzt"-Verfahren mit einer dielektrischen Schicht mit kleinem epsilon wird eine Lackvergiftung deutlich reduziert, derart, dass eine Oxidschicht mit geringer Dichte auf der dielektrischen Schicht mit kleinem epsilon gebildet wird, beispielsweise durch Umwandeln eines oberen Teils davon in ein Oxid, so dass vor und während der Herstellung der Deckschicht das Ausgasen flüchtiger Materialien verbessert wird. Da die Dichte der Deckschicht im Vergleich zu Deckschichten reduziert ist, die durch konventionelle Abscheideverfahren gebildet sind, kann das Ausgasen weiterhin über die gesamte Substratoberfläche während der Herstellung der Kontaktöffnung und des Grabens beibehalten werden, so dass ein kritischer Pegel an Lackkontamination zuverlässig vermieden werden kann.
申请公布号 DE10260615(A1) 申请公布日期 2004.07.15
申请号 DE20021060615 申请日期 2002.12.23
申请人 ADVANCED MICRO DEVICES, INC. 发明人 WERNER, THOMAS;RUELKE, HARTMUT;STRECK, CHRISTOF
分类号 G03F7/00;G03F7/09;H01L21/768;(IPC1-7):H01L21/768 主分类号 G03F7/00
代理机构 代理人
主权项
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