| 发明名称 | 透气性测量方法及透气性测量装置 | ||
| 摘要 | 在根据本发明的透气性测量方法中，向由测试件分隔的两个空间之一导入具有不同于测量用目标气体的质量数的同位素气体，和检测已透过测试件并且转移到另一个空间的同位素气体，以由此测量目标气体的透气性。 | ||
| 申请公布号 | CN1510398A | 申请公布日期 | 2004.07.07 |
| 申请号 | CN200310124712.6 | 申请日期 | 2003.12.24 |
| 申请人 | 松下电器产业株式会社 | 发明人 | 越后纪康;奥村英树;佐谷裕司 |
| 分类号 | G01D3/028 | 主分类号 | G01D3/028 |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 陈长会 |
| 主权项 | 1.一种用于测量测试件透气性的透气性测量方法，其中向由测试件分隔的两个空间之一导入具有不同于测量用的目标气体的质量数的同位素气体，和检测已透过测试件并且转移到另一个空间的同位素气体，以由此测量目标气体的透气性。 | ||
| 地址 | 日本大阪府 | ||