发明名称 以SiN<SUB>x</SUB>为梁的微结构谐振梁压力传感器制造方法
摘要 一种以SiN<SUB>x</SUB>为梁的新型微结构谐振梁压力传感器制造方法包括步骤:a)在(100)晶向的双面抛光硅片上,沉积氮化硅薄膜;b)沉积牺牲层;c)光刻牺牲层图形;d)沉积SiN<SUB>x</SUB>膜,用于制作谐振梁;e)制作激振电阻和拾振电阻;f)制作金属引线;g)刻蚀梁槽,制作谐振梁;h)刻蚀硅片背面低应力氮硅化合物薄膜,形成各向异性腐蚀窗口;i)背面硅腐蚀,制作压力敏感膜;j)腐蚀掉牺牲层,释放SiN<SUB>x</SUB>谐振梁,使SiN<SUB>x</SUB>谐振梁能够自由振动;k)粘片、焊引线。将芯片键合在金属管座上,并焊上引线;l)真空封装。将焊好的管座和管帽真空封焊在一起。由于SiN<SUB>x</SUB>具有更好的机械加工性能,可以制作更为复杂的谐振粱器件。
申请公布号 CN1156680C 申请公布日期 2004.07.07
申请号 CN01124285.X 申请日期 2001.08.24
申请人 中国科学院电子学研究所 发明人 于中尧;崔大付;陈德勇
分类号 G01L7/00;G01D5/02 主分类号 G01L7/00
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 戎志敏
主权项 1.一种以SiNx为梁的微结构谐振梁压力传感器制造方法,包括步骤:a)在(100)晶向的双面抛光硅片上,沉积氮化硅薄膜;b)沉积牺牲层;c)光刻牺牲层图形;d)沉积SiNx膜,用于制作谐振梁,其中,x的值为0.3-0.8;e)制作激振电阻和拾振电阻;f)制作金属引线;g)刻蚀梁槽,制作谐振梁;h)刻蚀硅片背面低应力SiNx薄膜,形成各向异性腐蚀窗口;i)背面硅腐蚀,制作压力敏感膜;j)腐蚀掉牺牲层,释放SiNx谐振梁,使SiNx谐振梁能够自由振动;k)粘片、焊引线,将芯片键合在金属管座上,并焊上引线;l)真空封装,将焊好的管座和管帽真空封焊在一起。
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