发明名称 制造半导体装置之方法
摘要 本发明提供一种制造半导体装置的方法,其中多层硬光罩层系一由氮化物膜/氧化物膜/氮化物膜所组成的结构。该制造一半导体装置的方法包括下列步骤:形成一闸极绝缘膜与一闸极电极导体层;于该导体层上形成一多层硬光罩层,其中该多层硬光罩层中每一层皆系由互不相同之材料所构成;对该结构进行蚀刻,以便形成由一闸极绝缘膜图案、一闸极电极以及一硬光罩层图案所组成之堆叠结构;形成一绝缘膜分隔体;于整个表面上形成一层间绝缘膜;对该层间绝缘膜进行蚀刻,以便形成一陆地插塞端子孔;于整个表面上形成陆地插塞的导体层;以及对陆地插塞的导体层进行平整处理,以便形成陆地插塞。
申请公布号 TW200411830 申请公布日期 2004.07.01
申请号 TW092117814 申请日期 2003.06.30
申请人 海力士半导体股份有限公司 发明人 郑璲钰
分类号 H01L21/8232 主分类号 H01L21/8232
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 韩国