发明名称 氟铝酸锂系列晶体的软坩埚下降生长方法
摘要 本发明是一种LAF系列晶体的坩埚下降生长方法,其特征在于,采取低温固相氟化处理的方法和软坩埚下降方法。以NH<SUB>4</SUB>F为氟化剂,在80~150℃的温度下加热进行为期3~4周的低温减压脱水,然后在300℃左右经24小时的减压氟化,再在560度以上的温度下抽真空烧结,软坩埚下降方法是以铂金薄片在0.06-0.15mm厚度制作坩埚,其尺寸为φ8-25mmX250-300mm,晶体生长界面温度为770-820℃,温度梯度控制在20-30℃/cm左右,向上向下逐步减小,生长速度每天5-10mm,直至生长完成。
申请公布号 CN1155741C 申请公布日期 2004.06.30
申请号 CN00109223.5 申请日期 2000.06.15
申请人 国家建筑材料工业局人工晶体研究所 发明人 黄朝恩;程立森;方珍意;师瑞泽;赵书清
分类号 C30B15/00 主分类号 C30B15/00
代理机构 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人 魏永金
主权项 1.一种LAF系列晶体的坩埚下降生长方法,以该晶体组成的氟化物为原料,按照其化学分子式计量其配比,并经低温固相氟化处理后,装入晶体生长的坩埚中,在抽真空后密封,置于生长炉中熔化后,以20mm以上/每天的速度下降坩埚,实施快速结晶提纯,然后以软薄的铂金坩埚下降生长方法生长晶体,其特征在于所说的低温固相氟化处理,是以NH4F为氟化剂,氟化剂的用量在使用含结晶水的氟化物原料时,过量10%以上,对不含结晶水的氟化物原料按其计算量的摩尔数的20%加入,在减压0.5个大气压的条件下,于80-150℃的低温下加热3-4周的时间脱水,然后在同样的减压条件下于300℃左右经24小时的减压氟化,再于560℃以上的温度下抽真空烧结。
地址 100018北京市733信箱