发明名称 光学量测装置
摘要 一种光学量测装置。该光学量测装置适用于量测一投影机镜头之解像力,同时该投影机镜头系供投射出一影像。该光学量测装置包括有一屏幕、一影像撷取单元、一均质滤镜以及一资料处理模组。该影像撷取单元系设置于该屏幕之上,用以接收投射至该屏幕之该影像,并输出对应于该影像之一类比影像讯号。该均质滤镜系设置于该屏幕上,并且对应于该影像撷取单元之位置,用以衰减及控制该影像之亮度。该资料处理模组系连接于该影像撷取单元,用以接收该类比影像讯号并依此计算出该投影机镜头之解像力。伍、(一)、本案代表图为:第 2A 图(二)、本案代表图之元件代表符号简单说明:100~光学量测装置;110~屏幕;120~影像撷取单元;130~均质滤镜;140~资料处理模组;150~支座;200~投影机;210~镜头;S~影像。
申请公布号 TW593995 申请公布日期 2004.06.21
申请号 TW092100488 申请日期 2003.01.10
申请人 明基电通股份有限公司 发明人 陈文杰
分类号 G01M11/02;G03B21/00 主分类号 G01M11/02
代理机构 代理人 洪澄文 台北市大安区信义路四段二七九号三楼;颜锦顺 台北市大安区信义路四段二七九号三楼
主权项 1.一种光学量测装置,适用于量测一投影机镜头之 解像力,其中,该投影机镜头系供投射出一影像,该 光学量测装置包括: 一屏幕; 一影像撷取单元,设置于该屏幕之上,系用以直接 接收投射至该屏幕之该影像,并输出对应于该影像 之一类比影像讯号; 一均质滤镜,设置于该屏幕上,并且对应于该影像 撷取单元之位置,系用以衰减及控制该影像之亮度 ;以及 一资料处理模组,连接于该影像撷取单元,系用以 接收该类比影像讯号并依此计算出该投影机镜头 之解像力。2.如申请专利范围第1项所述之光学量 测装置,其中,该资料处理模组更包括一影像处理 装置以及一电脑,该影像处理装置系用以转换该类 比影像讯号成一数位影像讯号,并输出该数位影像 讯号,该电脑系用以接收该数位影像讯号,并计算 出该投影机镜头之调变转换函数値(modulation transfer function value)。3.如申请专利范围第1项所述 之光学量测装置,其中,该影像撷取单元系为一CCD 感测器。4.如申请专利范围第3项所述之光学量测 装置,其中,该CCD感测器系具有640480像素以上之解 析度。5.如申请专利范围第2项所述之光学量测装 置,其中,该影像处理装置系具有640480像素以上之 解析度。6.如申请专利范围第1项所述之光学量测 装置,更包括一支座,连接于该屏幕,系用以支撑该 屏幕。图式简单说明: 第1图系一习知之投影机镜头之光学量测方式之示 意图; 第2A图系本发明之投影机镜头之光学量测方式之 示意图;以及 第2B图系显示根据第2A图之光学量测装置之前视示 意图。
地址 桃园县龟山乡山莺路一五七号