发明名称 感光性层合物及使用其之抗蚀图型之形成方法
摘要 本发明之目的在提供,含具孤立电子对原子之层上形成抗蚀图型时,可防这些层与抗蚀层之边界产生基脚之感光性层合物。基板上介以含具孤立电子对原子之层设化学放大型正型抗蚀组成物层之感光性层合物,其特征为:该化学放大型正型抗蚀组成物含(A)含(a1)羟基苯乙烯或α-甲基羟基苯乙烯单元,及(a2)羟基苯乙烯或α-甲基羟基苯乙烯,其经基之氢原子经低级烷氧基烷基取代之单元,以酸作用可增大之溶解度之树脂成分,(B)以活性光线照射可产生酸之酸产生剂,及(C)胺为必要成分,该酸产生剂系对35%羟基之氢原子经1-乙氧基乙基取代,重均分子量12,000,分散度1.2之聚羟基苯乙烯18质量份,当以5质量份配合形成膜,以2.38质量%氢氧化四甲铵水溶液,于23℃处理1分钟后,其膜减量在0.6奈米/秒以上之化合物。
申请公布号 TW594413 申请公布日期 2004.06.21
申请号 TW091111491 申请日期 2002.05.29
申请人 东京应化工业股份有限公司 发明人 新田和行;中緖卓;志村英一;藤田正一
分类号 G03F7/039;G03F7/004 主分类号 G03F7/039
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路二段一二五号七楼
主权项 1.一种感光性层合物,系于基板上介以含具有孤立 电子对原子层,设化学放大型正型抗蚀层之感光性 层合物,其特征为:该化学放大型正型抗蚀组成物 含(A)含(a1)羟基苯乙烯或-甲基羟基苯乙烯单元, 及(a2)羟基苯乙烯或-甲基羟基苯乙烯中羟基之 氢原子经低级烷氧基烷基取代之单元,藉酸之作用 使对之溶解度增大之树脂成分,(B)以活性光线照 射产生酸之酸产生剂,系对羟基35%之氢原子经1-乙 氧基乙基取代之质量平均分子量12,000.分散度1.2之 聚羟基苯乙烯18质量份,配合5质量份之该酸产生剂 所形成之膜,以2.38质量%之氢氧化四甲铵水溶液,于 23℃处理1分钟后,其膜减量在0.6奈米/秒以上之酸 产生剂,及(C)胺。2.如申请专利范围第1项之感光性 层合物,其中(A)成分每100质量份,含(B)成分0.5至30质 量份。3.如申请专利范围第1或2项之感光性层合物 ,其中(A)成分每100质量份,含(C)成分0.01至1.0质量份 。4.如申请专利范围第1项之感光性层合物,其中(A) 成分系(a1)羟基苯乙烯或-甲基羟基苯乙烯单元,( a2)羟基苯乙烯或-甲基羟基苯乙烯中羟基之氢原 子经低级烷氧基烷基取代之单元,及(a3)羟基苯乙 烯或-甲基羟基苯乙烯中羟基之氢原子经选自三 级丁氧基羰基、三级丁基、四氢喃基及四氢 喃基中之酸解离性溶解抑制基取代之单元所构成 之共聚物。5.如申请专利范围第1项之感光性层合 物,其中(B)成分系一般式 R1-SO2-C(N2)-SO2-R2 (式中R1及R2各系碳原子数3至10之直链或分枝烷基) 所表之重氮基甲烷系化合物。6.如申请专利范围 第5项之感光性层合物,其中一般式中R1及R2各系选 自异丁基、三级丁基及异丙基。7.如申请专利范 围第1项之感光性层合物,其中化学放大型正型抗 蚀组成物更含(D)羧酸,其对(A)成分100质量份之比例 系0.01至1.0质量份。8.如申请专利范围第1项之感光 性层合物,其中含具有孤立电子对原子之层,系氮 化钛、磷.矽酸玻璃、硼.磷.矽酸玻璃、氮化矽或 四氮化三矽之层。9.一种抗蚀图型之形成方法,其 特征为:使用如申请专利范围第1至8项中任一项之 感光性层合物,以图型状之活性光线照射抗蚀层, 后加热以后作显像。
地址 日本