Verfahren zur kontaktfreien, longitudinalen und transversalen Homogenitätsuntersuchung der kritischen Stromdichte jc in Band-Supraleitern und eine Messapparatur zur Durchführung des Verfahrens
摘要
申请公布号
DE59811029(D1)
申请公布日期
2004.04.29
申请号
DE19985011029
申请日期
1998.03.11
申请人
FORSCHUNGSZENTRUM KARLSRUHE GMBH
发明人
SCHILLER, HEINZ-PETER;SCHAUER, DR.;REINER, HANS;POLAK, DR.;GRUBE, DR.
