| 发明名称 |
Halbleiterspeichertestgerät und Adressgenerator zur Defektanalyse |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE10296828(T5) |
申请公布日期 |
2004.04.29 |
| 申请号 |
DE20021096828T |
申请日期 |
2002.05.16 |
| 申请人 |
ADVANTEST CORP., TOKIO/TOKYO |
发明人 |
YAMANE, TOMOYUKI |
| 分类号 |
G11C29/26;G11C29/56;(IPC1-7):G11C29/00;G01R31/28 |
主分类号 |
G11C29/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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